HAST高压不饱和加速寿命试验箱

HAST 非饱和高压加速老化试验箱 (又名 PCT高压加速老化试验机)主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度，湿度及压力下测试。广泛应用于线路板多层线路板,IC,LCD，磁铁等产品之密封性能的检测，测试其制品的耐压性，气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。